首页
ZI产品
锁相放大器
阻抗分析仪
任意波形发生器
锁相环
Boxcar 平均器
量子计算控制系统
解决方案
光学与光子学
拉曼光谱
泵浦-探测光谱
光学锁相环
光致发光
太赫兹时域光谱
光学斩波器测量
可调谐半导体激光吸收光谱
量子技术
量子反馈控制
Trapped Ion Quantum Computing
基于自旋的量子计算
超导量子计算
扫描探针显微镜
概述
多频原子力显微镜 (MF-AFM)
非接触式原子力显微镜 (NC-AFM)
双频共振跟踪 (DFRT)
开尔文探针力显微镜 (KPFM)
扫描近场显微术 (SNOM)
时间分辨 SPM
阻抗测量
深能级瞬态光谱检测(DLTS)
微流控/单细胞检测和分类
直流支撑电容器的ESR和ESL
高Q电容器的测量
纳米技术与材料科学
霍尔效应测量
Electron Paramagnetic Resonance (EPR)
Transport Measurements
AC Susceptibility Measurements
MCBJ with IETS
Opto-Electrical Measurements
工程学与半导体
Laser Voltage Probing and Imaging
Chip Characterization
Dye-Sensitized Solar Cells
传感器
MEMS-Based Sensors
MEMS Gyroscopes
联系我们
首 页
ZI产品
锁相放大器
阻抗分析仪
任意波形发生器
锁相环
Boxcar 平均器
量子计算控制系统
解决方案
光学与光子学
拉曼光谱
泵浦-探测光谱
光学锁相环
光致发光
太赫兹时域光谱
光学斩波器测量
可调谐半导体激光吸收光谱
量子技术
量子反馈控制
Trapped Ion Quantum Computing
基于自旋的量子计算
超导量子计算
扫描探针显微镜
概述
多频原子力显微镜 (MF-AFM)
非接触式原子力显微镜 (NC-AFM)
双频共振跟踪 (DFRT)
开尔文探针力显微镜 (KPFM)
扫描近场显微术 (SNOM)
时间分辨 SPM
阻抗测量
深能级瞬态光谱检测(DLTS)
微流控/单细胞检测和分类
直流支撑电容器的ESR和ESL
高Q电容器的测量
纳米技术与材料科学
霍尔效应测量
Electron Paramagnetic Resonance (EPR)
Transport Measurements
AC Susceptibility Measurements
MCBJ with IETS
Opto-Electrical Measurements
工程学与半导体
Laser Voltage Probing and Imaging
Chip Characterization
Dye-Sensitized Solar Cells
传感器
MEMS-Based Sensors
MEMS Gyroscopes
联系我们
首页
ZI产品
阻抗分析仪
阻抗分析仪
针对不同类型的阻抗测量,苏黎世仪器提供了功能强大的工具集。所有的仪器都配有LabOne®控制软件,并且可以升级额外的选件,以满足最苛刻的应用需求。
MFIA 阻抗分析仪
主要特点
- DC 至 5 MHz,1 mΩ 至 1TΩ
- 0.05% 基本精度(速度为 20ms/数据点)
-非常适合DLTS,MEMS和ESR及ESL的应用
- 用于精确测量的智能补偿和置信度指示器
- 启动时间仅25秒,重复性高
- 可选完整的 MFLI 锁相放大器功能:动态测量,时间常数范围从 336ns到83s
- LabOne®参数扫描仪,可用于扫描信号输出频率、输出偏置电压和输出幅值
- 适用于 C、MATLAB®、LabVIEW®、Python 的 LabOne API
更多详情